shibuya反射率測量裝置MSP-100
通過使用特殊的半反射鏡，可以減少背面反射光，無需背面處理即可在短時間內進行精確測量。
（可測量 0.2 mm 薄板的反射率：使用 ×20 物鏡時）還可以測量鏡片曲面和涂層不均勻度。（在樣品表面連接微小點（φ50μm））
即使是低反射率的樣品也可以在短時間內進行測量，并且具有高重復性。（光學設計捕獲最大量的光，并
通過512元件線性PDA、內置16位A/D轉換器和USB 2.0接口的高速計算實現(xiàn)快速測量。）可以進行色度測量和L*a*b*測量?？梢允褂霉庾V比色法根據(jù)光譜反射率來測量物體。
數(shù)據(jù)可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。
單層薄膜可以非接觸式、非破壞性地測量。
具有在同一屏幕上顯示多個測量結果的功能。輕松比較測量結果。
shibuya反射率測量裝置MSP-100
規(guī)格
| 型號 | MSP-100 |
|---|---|
| 測量波長 | 380～1050nm |
| 測量重復性 | ±0.2%(380-450nm) ±0.02%(451-950nm) ±0.2%(951-1050nm) |
| 樣品面 NA | NA 0.12（使用 10 倍物鏡時） |
| 樣品測量范圍 | φ50μm（使用10倍物鏡時） |
| 樣品曲率半徑 | -1R~-無窮大, +1R~無窮大 |
| 顯示分辨率 | 1納米 |
| 測量時間 | 幾秒到十幾秒（取決于采樣時間） |
| 外形尺寸 | (寬)230×(高)560×(深)460mm（僅機身） |
| 工作溫度限制 | 18～28℃ |
| 工作濕度 | 60%以下（無凝露） |
