Thick800型X熒光膜厚測量儀采用X熒光分析技術，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進行電鍍液的成分濃度測定。
Thick800型X熒光膜厚測量儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉變?yōu)槟M電信號；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉換為數(shù)字信號并送入計算機進行處理；計算機的特殊應用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數(shù)十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。
天瑞儀器公司集中了內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術等行業(yè)技術研究開發(fā)專家及生產(chǎn)技術人員，依靠科學研究，總結多年的現(xiàn)場應用實踐經(jīng)驗，結合中的特色，開發(fā)生產(chǎn)出的Thick800 型X熒光鍍層測厚儀具有快速、、簡便、實用等優(yōu)點，廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。
儀器特點：
1． 儀器外觀選用流線型設計，時尚雅致。
2． 同時分析元素周期表中由硫(S)到鈾（U）。
3． 可以分析多5層鍍層，次可分析元素多達24種。
4． 無需復雜的樣品預處理過程，無損測試。
5． 檢出限可達到2ppm。
6． 分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm 。
7． 采用美原裝、際的探測器，能量分辨率高。
8． 采用美原裝、際的AMP，處理速度快，精度高，穩(wěn)定。
9． X光管采用正高壓激發(fā)，激發(fā)與測試條件采用計算機軟件數(shù)碼控制與顯示。
10． 采用彩色攝像頭，觀察拍攝樣品。
計算機分析系統(tǒng)
聯(lián)想計算機；高分辨率彩色液晶顯示器。
惠普打印機。
系統(tǒng)軟件
際的XRF分析軟件，融合了包括經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）、
理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法，面：單層、雙層、多層、合金鍍層測試數(shù)據(jù)的性。
電源
AC 220V～240V、50Hz 。
額定功率：350W。選配高精度參數(shù)穩(wěn)壓電源。
儀器尺寸、重量
樣品腔尺寸：498*360*158 mm（W*D*H）
主機外形尺寸：580*500*580 mm （W*D*H）
主機重量：約50KG。
應用:
塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層（接插件、半導體、線路板、電容器等）、鋼鐵材料鍍層（鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等）、有色金屬材料鍍層（銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等）、 其它各種鍍層厚度的測量及成分分析。
