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全國顯示計量與測試技術研討會召開 聚焦光學計量
點擊次數(shù)：607 發(fā)布時間：2016-10-28
2016年10月19日，由中國計量測試學會光輻射計量專業(yè)委員會、國防科技工業(yè)光電子一級計量站、中國計量科學研究院光學與激光計量科學研究所等單位主辦的2016全國顯示計量與測試技術交流研討會在山東青島召開。
會議由光輻射委員會主席林延東研究員致大會開幕詞，會議邀請了美國國家標準與技術研究院NIST研究員John Penczek博士、中國計量科學研究院陳赤研究員、東南大學李曉華教授等國內外光顯示計量與測試領域的專家和學者到會并做專題講座，與會代表就光顯示計量測試技術的研究成果進行了討論和分享。
IEC TC110標準項目組長、浙大三色標準化專家李俊凱受邀作了“新型顯示測試技術和標準”主題報告。他向與會代表介紹了浙大三色公司在IEC TC110電子顯示標準化技術委員會中牽頭制定的8項標準的進展情況，并就當前顯示領域關注的激光顯示、AR/VR等新型顯示器件的光學性能和圖像評測標準化思路、相關測量技術做了進一步的介紹。