日本進(jìn)口納米粉體顆粒外觀形狀分析儀便攜式PITA

【資料簡介】

日本清新betterseishin便攜式粉體顆粒外觀分析設(shè)備PITA

您遇到了困難？

●我想立即在現(xiàn)場觀察顆粒。
●沒有粒度分布測量裝置。沒有測量人員。
●
　我要測量形狀，而不是篩子或激光衍射。
●我想像顯微鏡一樣測量粒度分布。

PH-01通過使用探頭獲取分散在玻璃表面的顆粒圖像來執(zhí)行圖像分析。我們已經(jīng)使設(shè)備盡可能的小，使其成為廉價(jià)（低成本）和易用（簡單）的便攜式設(shè)備。在無線局域網(wǎng)環(huán)境中，可以將測量數(shù)據(jù)發(fā)送到另一臺PC。

設(shè)備規(guī)格

分析原理	靜態(tài)圖像分析
分析參數(shù)	圓當(dāng)量直徑，圓度，不平整度，基于體積的任意粒徑（每10％中10％），數(shù)均
測量范圍	L：低倍率50-1000μm，帶防塵選件
	A：3-100μm高倍率自動(dòng)對焦
圖形輸出	圓度×圓當(dāng)量直徑的體積分布，數(shù)量分布，散布圖顯示
打印/發(fā)送	數(shù)據(jù)可以在無線局域網(wǎng)環(huán)境下傳輸?shù)饺魏蜳C /打印機(jī)